太陽(yáng)能電池組件綜合缺陷紅外檢測(cè)

簡(jiǎn)要描述：對(duì)太陽(yáng)能電池/組件加載電壓后，使之發(fā)光，再利用近紅外相機(jī)攝取其發(fā)光影像，因電致發(fā)光亮度正比于少子擴(kuò)散長(zhǎng)度，缺陷處因具有較低的少子擴(kuò)散長(zhǎng)度而發(fā)出較弱的光，從而形成較暗的影像。

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更新時(shí)間：2023-02-23
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詳細(xì)介紹

缺陷檢測(cè)原理

電致發(fā)光亮度正比于少子擴(kuò)散長(zhǎng)度：
對(duì)太陽(yáng)能電池/組件加載電壓后，使之發(fā)光，再利用近紅外相機(jī)攝取其發(fā)光
影像，因電致發(fā)光亮度正比于少子擴(kuò)散長(zhǎng)度，缺陷處因具有較低的少子擴(kuò)散
長(zhǎng)度而發(fā)出較弱的光，從而形成較暗的影像。

有效定位缺陷類型：
通過(guò)對(duì)產(chǎn)品缺陷圖像的觀察通過(guò)對(duì)產(chǎn)品缺陷圖像的觀察，可以有效的發(fā)現(xiàn)硅片可以有效的發(fā)現(xiàn)硅片、擴(kuò)散、刻蝕、印刷、燒結(jié)等工藝過(guò)程存在的問(wèn)題，方便進(jìn)行分析以及問(wèn)題的解決，對(duì)提高產(chǎn)品質(zhì)量
和產(chǎn)品效率，改善工藝和穩(wěn)定產(chǎn)量起到了的幫助作用。

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